Event Detectors
イベントディテクタ
その基板のはんだ付け、本当に信頼できますか?
イベントディテクタ STDシリーズ の特長
- 既存のスキャンニング測定とは異なる常時モニタリングシステム
ある設定値を超える抵抗値が観察されるとイベントとして記録
しきい値抵抗は選択可能です。しきい値の設定範囲:100Ω〜5kΩ
非常に微小な短時間のイベントを検出
イベントの最小検出時間:0.2μsec / チャネル電流:1.2mA
多チャネルの測定が可能
1台で256チャネルを有し、専用のシリアルケーブルで装置間をリンクすることにより最大1024チャネル迄増設可能です。
リモートコマンドで接続できる各種アクセサリーモジュール
温度測定モジュールやアクチュエータモジュールにより熱サイクル試験機や機械的曲げ試験機等のサイクルデータを収集し、またイベントデータと同期してデータを長期に記録できます。
制御は、全て専用ソフトウェアのWinDataLogで行います。
Weibull Plot、Temperature Cycle Plot等のデータが表示できます。
- 仕様はIPC-SM-785に準拠しています。
用途
鉛フリーはんだ接続信頼性評価
BGA、CSPはんだボール接続信頼性評価
コネクタなどのコンタクト部接触抵抗評価
スイッチ、リレーなど各種接触抵抗評価
チップコンデンサー接続信頼性評価
イベントディテクタ各モデルの仕様
広範囲に瞬時の抵抗変化をモニターするイベントディテクタの現在の各モデルの仕様です。
これらの標準品に加えて実験要求に答える為、カスタム品も対応します。
| シリーズ | モデル | チャンネル数 | センス電流 (mA) | 最小イベント持続時間 | しきい値抵抗 (Ω) |
|---|---|---|---|---|---|
| EHDシリーズ | 32EHD | 32NC | 10-100 | 1,10,50 nsec | 0.5 - 20 |
| 106シリーズ | 32-106 | 32NC | 1-100 | 0.1,0.5,1.0 usec | 0.1 - 2000 |
| 105シリーズ | 32-105 | 32NC | 1 - 100 | 0.1,0.5,1.0 usec | 0.1 - 2000 |
| 105シリーズ | 64-105 | 64NC | 1 - 100 | 0.1,0.5,1.0 usec | 0.1 - 2000 |
| 105シリーズ | 96-105 | 96NC | 1 - 100 | 0.1,0.5,1.0 usec | 0.1 - 2000 |
| 105シリーズ | 128-105 | 128NC | 1 - 100 | 0.1,0.5,1.0 usec | 0.1 - 2000 |
| HLV ampシリーズ | 32HLV | 32NC | 2 | 0.5 usec | 0.01 - 2 |
| STDシリーズ | 64STD | 64NC | 1.2 | 0.2 usec | 100 - 5000 |
| STDシリーズ | 128STD | 128NC | 1.2 | 0.2 usec | 100 - 5000 |
| STDシリーズ | 256STD | 256NC | 1.2 | 0.2 usec | 100 - 5000 |
Notes:
- 1. 105と106シリーズのイベントデテクターは、電気的に又機能的に同じです。全ての105シリーズの機器は、1台で128ch迄対応可です。106シリーズの機器は、最大32ch迄対応可です。
- 2. 全てのSTDシリーズのイベントデテクターは、1台で256ch迄対応可です。64STDや128STDのモデルは、いつでもアップグレード(ch増設)可能です。